環(huán)境應力篩選ESS試驗箱可靠性提高的重要途徑
發(fā)表時(shí)間:2022-05-04 網(wǎng)址:http://www.chengguanzg.cn/ 編輯:admin
環(huán)境應力篩選試驗箱(以下稱(chēng)ESS試驗箱)是通過(guò)向電子產(chǎn)品施加合理的環(huán)境應力和電應力,將其內部的“潛在缺陷激發(fā)成為故障,并通過(guò)檢測發(fā)現和排除的過(guò)程,是一種工藝手段,旨在提高產(chǎn)品的可靠性。在制定ESS方案前,首先應研究產(chǎn)品缺陷,即研究產(chǎn)品缺陷是開(kāi)展ESS的前提。根據缺陷特點(diǎn),可將產(chǎn)品缺陷按以下方式分類(lèi):
1.按引入缺陷的源頭分類(lèi),可分為設計缺陷、生產(chǎn)缺陷、元器件及原材料缺陷。
2.按可檢測程度分類(lèi),可分為明顯缺陷與潛在缺陷。
3.按ESS效果分類(lèi),可分為ESS能激發(fā)和導致故障的缺陷、ESS不能激發(fā)和導致故障的缺陷。
通常說(shuō)的元器環(huán)境應力篩選試驗箱比ESS內容多,差別較大。目前國內使用的元器件篩選方法如下:
a)外觀(guān)檢查:用10倍放大鏡檢查外形、引線(xiàn)及材料有無(wú)缺陷。
b)溫度循環(huán):使元器件交替暴露在規定的極限高溫和極限低溫下,連續承受規定條件和規定次數的循環(huán),由冷到熱或由熱到冷的總轉移時(shí)間不超過(guò)1 min,保持時(shí)間不小于10 min.
c)高溫壽命(非工作) :按照國家標準規定的壽命試驗要求,使元器件在規定的環(huán)境條件下(通常是最高溫度)存儲規定的時(shí)間。
d)電功率老煉:按降額條件達到最高結溫下的老煉目的,老煉功率按元器件各自規定的條件選取。
f)電參數測試(包括耐壓或漏電流等測試):按產(chǎn)品技術(shù)規范合同規定進(jìn)行。
g)功能測試:按產(chǎn)品技術(shù)規范合同規定進(jìn)行。
環(huán)境應力篩選試驗箱(ESS)是指利用外加的環(huán)境應力,使潛存于電子產(chǎn)品研發(fā)、設計、生產(chǎn)制程中,因不良元器件、制造工藝和其它原因等所造成的早期故障提早發(fā)生而暴露出來(lái),給予修正和更換。
產(chǎn)品篩選
通過(guò)溫度和濕度循環(huán)可使您在發(fā)現之前檢測出產(chǎn)品存在的潛在缺陷,提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
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